“熱試驗”就是我們所說的“溫升試驗”。試驗的目的是獲得電機(jī)繞組、滑環(huán)、換向器、軸承等發(fā)熱元件在規(guī)定工況下運(yùn)行并達(dá)到熱穩(wěn)定性時的溫度或溫升值。檢查被測電機(jī)的絕緣材料、生產(chǎn)工藝與正常運(yùn)行和設(shè)計壽命的匹配關(guān)系。熱值也是計算電機(jī)定、轉(zhuǎn)子繞組銅損和計算效率的必要參數(shù)。

根據(jù)試驗是否加載，有直接加載法和間接加載法兩種。為保證電機(jī)試驗和使用的一致性，應(yīng)盡可能采用直接加載法。負(fù)載可以根據(jù)具體情況選擇，也可以根據(jù)實際負(fù)載選擇，即實際應(yīng)用中電機(jī)帶來的負(fù)載。然而，在許多情況下，只能使用間接測量和計算。沈女士今天就給大家介紹幾種常見的測量方法。

通過溫升或溫度的常用測量方法

試驗過程中，電機(jī)不同部位的溫度應(yīng)采用不同的測量方法和測量儀器設(shè)備。常用的方法有溫度計法、電阻法、疊加法、嵌入式溫度檢測元件法和紅外測溫法。

埋置測溫元件法

嵌入式測溫元件法，簡稱ETD法，是將測溫元件嵌入電機(jī)(電阻溫度計、熱電偶、熱敏電阻或半導(dǎo)體溫度計等)中的一種測溫方法。)作為溫度傳感元件，獲得的溫度信號通過導(dǎo)線傳輸?shù)酵獠科ヅ鋬x器，從而顯示被測元件的溫度。測量溫度是測量點(diǎn)的局部溫度值。

在實際測試過程中，被測溫度與測溫元件的放置位置直接相關(guān)。各電機(jī)制造商應(yīng)通過積累大量的測量數(shù)據(jù)，為不同的電機(jī)結(jié)構(gòu)確定合適的放置位置，從而客觀反映電機(jī)的熱性能。

紅外測溫法

紅外測溫更適合測量電機(jī)表面(如電機(jī)外殼和電機(jī)外露內(nèi)部部件(如滑環(huán)和換向器等)的溫度。).使用的設(shè)備是“紅外線溫度計”。在實際使用中，可能會發(fā)現(xiàn)紅外測溫儀測得的溫度只是局部溫度，與被測距離、角度、零件顏色等直接相關(guān)。而實測數(shù)據(jù)只是一個不準(zhǔn)確的定性數(shù)據(jù)。

溫度計法

溫度計的測溫元件直接貼在被測元件上，得到其溫度，被測溫度就是測點(diǎn)的局部溫度值。使用的溫度計包括水銀或酒精膨脹溫度計、半導(dǎo)體溫度計、非嵌入式熱電偶或電阻溫度計等。在實際測試過程中，使用水銀溫度計是比較常見的。

特別是水銀溫度計不適合電機(jī)，因為有很強(qiáng)的交變磁場。當(dāng)它通過溫度計中的水銀時，會在其中產(chǎn)生感應(yīng)電流，導(dǎo)致水銀升溫，導(dǎo)致指示值出現(xiàn)額外誤差。

電阻法

方法電阻法這種間接測溫法特別適用于不能用溫度計直接測量的發(fā)熱元件的溫度測量。該測量方法基于金屬導(dǎo)體在一定溫度范圍內(nèi)電阻值與溫度之間的數(shù)學(xué)關(guān)系原理，通過測量導(dǎo)體電阻值的變化來計算溫度變化。

電機(jī)的電阻變化是指熱態(tài)電阻值與冷態(tài)電阻值之差，熱態(tài)電阻值是在電機(jī)溫升穩(wěn)定，電機(jī)停止運(yùn)行后測得的。

因為測得的電阻值是整個導(dǎo)體的平均值，所以如此計算的導(dǎo)體溫度也是整個導(dǎo)體溫度的平均值。

疊加法

這種方法是在不中斷交流負(fù)載電流的情況下，通過在負(fù)載電流上疊加一個微弱的DC電流來測量繞組DC電阻隨溫度的變化。

從探測原理來看，疊加法實際上是一種阻力

以上非官方內(nèi)容僅代表個人觀點(diǎn)。